DKSH ขอเชิญทุกท่านเข้าร่วมงานสัมมนา หัวข้อ "From Phases to 3D Structures: Expanding the Scope of X-ray Diffraction"
ในวันพุธที่ 21 มกราคม พ.ศ. 2569 เวลา 08.30 - 15.30 น.
สถานที่: Sci Space 3 ชั้น 1 อาคารแถบ นีละนิธิ คณะวิทยาศาสตร์ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
แผนที่: https://maps.app.goo.gl/D9wdrWCbFP9qouRM9
Speakers:
1. Assistant Professor Dr. Alongkot Fanka (Department of Geology, Chulalongkorn University)
2. Dr. Thanisararat Saleesung (Senior Manager Product Management)
3. Miss Paramee Nairattanahirun (Specialist, Product Management)
*ลงทะเบียนฟรี ไม่มีค่าใช้จ่าย*
รายละเอียด
Time | Topic |
|---|---|
Morning Session | |
08.30 – 09.00 | Registration |
09.00 – 09.15 | Opening Speech |
09.15 – 10.15 | Overview and Applications of X-ray Diffraction and Analytical Service Capabilities |
10.15 – 10.30 | Break |
10.30 – 12.00 | Advancing Materials Analysis with Next-Generation XRD Capabilities Phase ID (Powder and Solid), GIXRD, XRR, Stress, SAXS, CT (Computed Tomography) |
12.00 – 12.30 | Lunch |
Afternoon Session | |
13.00 – 15.30 | Session 1: Reflection-Transmission Spinner Stage Demonstration
Practical demonstration of real-time measurements, sample setup and data acquisition workflow Session 2: CT stage Demonstration Live demonstration of the CT (Computed Tomography) stage, including 3D data colection and reconstruction overview (Optional) CT Live demonstration |
ลงทะเบียนเข้าร่วมสัมมนา
>>คลิกที่นี่<< เพื่อลงทะเบียน
**ทางเจ้าหน้าที่จะติดต่อกลับอีกครั้ง เพื่อยืนยันการเข้าร่วมงานสัมมนา**
สอบถามเพิ่มเติม
แผนกการตลาด
093 812 1043 / 095 204 4065
Related Products
X-ray Diffraction รุ่น Empyrean
฿0.00เครื่อง Empyrean เป็นเครื่องวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซเรย์ โดยสามารถวัดได้กับตัวอย่างที่เป็นผง ฟิล์มบาง วัสดุระดับนาโนและของแข็ง และสามารถใช้ได้กับแอปพลิเคชันต่างๆ ดังต่อไปนี้
– การวิเคราะห์หาชนิดและปริมาณของเฟส
– การคำนวณและระบุโครงสร้าง และผลึกคริสตัล
– เทคนิค Small Angle X-ray Scattering (SAXS)
– เทคนิค X-ray Reflectometry
– การวิเคราะห์ Texture
– การวิเคราะห์ Stress
– เทคนิค In-plane Diffraction
– การทดสอบขั้นสูง PDF, CT, Micro XRD